GB 1556-1979  硅单晶晶向x光衍射测量方法

标准编号：GB 1556-1979

中文标准名称：硅单晶晶向x光衍射测量方法

英文标准名称：measurement of crystal orientation of monocrystalline silicon by x-ray diffraction methods

标准状态：已作废

被代替标准号：被GB/T 1555-1997代替

废止时间：1998-8-1

语言：简体中文版、英文版

发布日期：1979-05-26

实施日期：1980-01-01

标准类别：国家标准GB

中国标准文献分类法(中标分类CCS)：冶金 >> 金属理化性能试验方法 >> 金属物理性能试验方法

国际标准分类法(ICS)：

标准页数：2页

引用标准：被GB/T 1555-1997代替

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