YS/T 83-2006 光谱分析用钯基体

标准编号：YS/T 83-2006

中文标准名称：光谱分析用钯基体
英文标准名称：basis palladium as spectral analysis
标准状态：现行有效
强制与推荐：推荐性标准
被代替标准号：YS/T 83-1994
采用程度：4
语言：简体中文版，超声波探伤仪英文版
发布日期：2006-5-25
实施日期：2006-12-1
标准类别：有色冶金(金属)YS
标准页数：6 页
主管部门：国家发展和改革委员会
归口单位：全国有色金属标委会
起草单位：贵研铂业股份公司
起草人：谭文进、石红、刘文、蹇祝明、赵飞
标准简介： 本标准规定了光谱分析用钯基体的要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存。 本标准适用于光谱分析纯度为99.9%～99.999%的钯时所用钯基体。

文件格式：纸质版或者PDF电子版（用Acrobat Reader打开）


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